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納米材料粒度測試儀器和方法大全

        納米材料是指在三維空間（1-100nm）中至少一維具有特殊性質(zhì)或由納米結(jié)構(gòu)單元組成的材料。它們被譽(yù)為“21世紀(jì)最重要的戰(zhàn)略高科技材料之一"。 "。當(dāng)材料的粒徑達(dá)到納米級時，將具有傳統(tǒng)微米級材料所不具備的小尺寸效應(yīng)、量子尺寸效應(yīng)、表面效應(yīng)等諸多特性，這些特殊的效果將提供新的思路。新材料的開發(fā)和應(yīng)用。目前，納米材料已成為材料開發(fā)和產(chǎn)業(yè)化的最基本組成部分，納米材料的粒徑是其最重要的表征參數(shù)之一，本文闡述了8種納米材料粒徑測試方法根據(jù)不同的檢測原理，分析了不同粒徑檢測方法的優(yōu)缺點和適用范圍。納米材料，一般包括掃描電子顯微鏡（SEM）和透射電子顯微鏡 (TEM)。對于非常小的顆粒尺寸，尤其是僅由幾個原子組成的簇，使用掃描隧道電子顯微鏡進(jìn)行測量。電子顯微鏡測得的粒徑計算主要采用交叉法、交叉長度平均法、粒度分布圖法。優(yōu)點：該方法是粒度觀察的方法，因此可靠直觀。缺點：測量結(jié)果缺乏整體統(tǒng)計；下落樣品前必須進(jìn)行超聲波分散；對于一些不耐強(qiáng)電子束轟擊的納米顆粒樣品，很難獲得準(zhǔn)確的結(jié)果。 2、激光粒度分析方法激光粒度分析方法是基于夫瑯禾費衍射和米氏散射理論。激光照射到顆粒上后，顆粒可以使激光發(fā)生衍射或散射，以測試粒度分布。因此，相應(yīng)的激光粒度儀分為激光衍射型和激光動態(tài)散射型兩種。一般的衍射粒度分析儀適用于5μm以上粒徑的樣品分析，而動態(tài)激光散射分析儀對5μm以下的納米和亞微米級顆粒樣品的分析更準(zhǔn)確。因此，納米粒子的測量一般采用動態(tài)激光散射儀。優(yōu)點：樣品量少，自動化程度高，重復(fù)性好，在線分析等缺點：不能分析高濃度粒度和粒度分布，在分析過程中需要稀釋，會帶來一定的誤差。 3.動態(tài)光散射法狀態(tài)光散射又稱光子相關(guān)光譜，是通過測量樣品散射光強(qiáng)度的波動來獲得樣品的平均粒徑和粒徑分布。納米粒子在液體中的布朗運動以布朗運動為主，其運動速度取決于顆粒大小、溫度和粘度系數(shù)等因素。在恒定溫度和粘度條件下，通過光子相關(guān)光譜法測量顆粒的擴(kuò)散系數(shù)可以得到粒徑分布，適用于工業(yè)產(chǎn)品粒徑的檢測，測量粒徑范圍為1nm至5μm的懸浮液。優(yōu)點：速度快，可以獲得準(zhǔn)確的粒度分布。缺點：結(jié)果受樣品粒徑和分布影響較大。僅適用于測量粒徑分布較窄的顆粒樣品；試驗過程中不應(yīng)有明顯的結(jié)塊和快速沉降。 4. X射線衍射線寬法(XRD) XRD測量納米材料晶粒尺寸的原理是當(dāng)材料晶粒尺寸為納米時，衍射峰形會相應(yīng)變寬。確定并使用謝樂公式計算不同晶面的晶粒尺寸。對于特定晶粒，衍射hkl的晶面間距dhkl與晶面層數(shù)N的乘積即為晶粒在垂直于晶面方向的晶粒尺寸Dhkl。優(yōu)點：可用于未知物質(zhì)的鑒別。缺點：靈敏度低；定量分析的準(zhǔn)確性不高；測得的晶粒尺寸不能判斷晶粒是否緊密團(tuán)聚；需要注意樣品中不存在微觀應(yīng)力。 5、X射線小角散射法（SAXS）X射線照射在材料上時，如果材料內(nèi)部存在納米級密度不均勻區(qū)域，則在2°~5的小角度范圍內(nèi)° 在入射 X 射線束周圍出現(xiàn)散射的 X 射線。材料粒度越細(xì)，中心散射越分散，這種現(xiàn)象與材料顆粒的內(nèi)部結(jié)構(gòu)無關(guān)。 SAXS 方法可以通過測量中心的散射圖案來計算材料的粒度分布。 SAXS可用于在納米級測定各種金屬、無機(jī)非金屬、有機(jī)高分子粉末、生物大分子、膠體溶液、磁性液體等的粒度分布；它還可以測量各種材料中的納米級孔隙和偏析。該區(qū)域的大小和降水量相同，用于分析和研究。優(yōu)點：操作簡單；對于單一材料的球形粉體，該方法測量粒度精度良好。缺點：不能有效區(qū)分來自顆粒或微孔的散射，且散射較密集在無線電系統(tǒng)中，粒子散射之間會產(chǎn)生干擾效應(yīng)，導(dǎo)致測量結(jié)果較低。 6、X射線光電子能譜（XPS） XPS法以X射線為激發(fā)源，根據(jù)納米材料表面激發(fā)電子的特征能量分布（能譜）分析表面元素，又稱化學(xué)分析光電子能譜 (ESCA)。由于特定軌道上原子的結(jié)合能取決于原子周圍的化學(xué)環(huán)境，因此X射線光電子能譜的指紋特征可用于除氫和氦外的各種元素的定性和半定量分析。優(yōu)點：靈敏度*，分析所需樣品量少。缺點：但相對靈敏度不高，分析液體樣品比較麻煩；影響X射線定量分析準(zhǔn)確性的因素相當(dāng)復(fù)雜。 7. Scanning Probe Microscopy (SPM) SPM方法利用測量探針與樣品表面相互作用產(chǎn)生的信號，研究物質(zhì)表面原子和分子的幾何結(jié)構(gòu)以及納米或相關(guān)物理化學(xué)原子水平。分析技術(shù)的本質(zhì)，特別是以原子力顯微鏡（AFM）為代表的分析技術(shù)，不僅可以直接觀察納米材料表面的形貌和結(jié)構(gòu)，還可以對材料表面進(jìn)行可控的局部處理。優(yōu)點：在納米材料的測量和表征方面具有*的優(yōu)勢。缺點：由于缺乏標(biāo)準(zhǔn)材料，在實際操作中缺乏實用性。 8.拉曼光譜拉曼光譜是低維納米材料的shou選方法。它是一種基于拉曼效應(yīng)的非彈性光散射分析技術(shù)。它是由激發(fā)光的光子與材料的晶格振動相互作用產(chǎn)生的非彈性散射光譜，可用于分析材料的指紋。拉曼頻移與材料分子的旋轉(zhuǎn)和振動能級有關(guān)，不同的材料產(chǎn)生不同的拉曼頻移。拉曼頻率特性可以提供有價值的結(jié)構(gòu)信息。拉曼光譜可用于分析納米材料的分子結(jié)構(gòu)、鍵態(tài)特征和平均晶粒尺寸測量。優(yōu)點：靈敏度高，不損傷樣品，方便快捷。缺點：不同振動峰的重疊和拉曼散射強(qiáng)度容易受光學(xué)系統(tǒng)參數(shù)等因素影響；在進(jìn)行傅里葉變換光譜時，經(jīng)常會出現(xiàn)曲線的非線性。總結(jié) 納米材料粒徑的測試方法多種多樣，但不同的測試方法對應(yīng)不同的測量原理，因此不同的測試方法是不能改變的。橫向比較。不同的粒度分析方法都有其一定的適用范圍和相應(yīng)的樣品處理方法，因此在實際檢測中，應(yīng)綜合考慮納米材料的特性、測量目的、經(jīng)濟(jì)成本等因素來確定最終選擇的檢測方法。